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半導(dǎo)體芯片的復(fù)雜性正在迅速增加，需要更加先進(jìn)的測試系統(tǒng)和能力，超元為晶圓測試解決方案提供寬廣的測試平臺。測試溫度范圍為-45°C至150°C，使用國際知名探針臺，能夠測試5, 6, 8和12吋晶圓。測試環(huán)境為
class 1,000。
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